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頻譜分析儀是一種比較貴重的綜合性儀器，一旦損壞，相應(yīng)的維修費(fèi)用比較高，且維修周期比較長(zhǎng)，因此正確使用很重要。1、對(duì)于分析儀來(lái)說(shuō)電源是重要的，在加電之前，一定要確保電源接法正確，保證地線可靠接地，配置的是三芯電源線，開機(jī)之前，必須將電源線插頭插入標(biāo)準(zhǔn)的三相插座中，千萬(wàn)不要使用沒(méi)有保護(hù)地的電源線，以防止可能造成的人身傷害。2、在對(duì)信號(hào)進(jìn)行測(cè)量前，開機(jī)后應(yīng)預(yù)熱三十分鐘，當(dāng)測(cè)試環(huán)境溫度改變3—5度時(shí)，應(yīng)重新進(jìn)行校準(zhǔn)。3、在輸入端口都有一個(gè)允許輸入的MAX安全功率，稱為MAX輸入電平，...

索引：如何使用和選擇EMI故障診斷的近場(chǎng)探頭？近場(chǎng)探頭也是射頻干擾探頭。配合50Ω示波器、接收機(jī)、頻譜分析儀進(jìn)行電場(chǎng)和磁場(chǎng)輻射干擾測(cè)試！！！用于探測(cè)印刷電路板、元器件、集成電路和電磁干擾源產(chǎn)生的輻射發(fā)射。一、概述：近場(chǎng)電磁干擾(EMI)測(cè)試是電磁兼容性(EMC)輻射發(fā)射預(yù)兼容測(cè)試中的一個(gè)重要組成。EMI機(jī)構(gòu)使用EMI接收機(jī)和經(jīng)過(guò)準(zhǔn)確校準(zhǔn)的天線來(lái)測(cè)試3或10米距離上的器件，這稱為遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。電磁場(chǎng)的特性主要由被測(cè)器件(DUT)以及它與接收機(jī)和天線的距離決定。遠(yuǎn)場(chǎng)輻射發(fā)射測(cè)量可以準(zhǔn)...

國(guó)產(chǎn)示波器高壓差分探頭和電流探頭相比，示波器電流探頭通常是非插入式霍爾效應(yīng)型探頭，這兩種探頭各有其*的傳輸延遲，而且這兩個(gè)延遲的差被稱為時(shí)間偏差，這也是我們今天重點(diǎn)討論的問(wèn)題之一，因?yàn)椴煌筋^之間的時(shí)間偏差在我們測(cè)試的時(shí)候會(huì)造成幅度測(cè)量以及與時(shí)間有關(guān)的測(cè)量不準(zhǔn)確。有的電源測(cè)量軟件有可以自動(dòng)校正所選探頭組合的時(shí)間偏差的功能，通過(guò)軟件控制示波器，并通過(guò)實(shí)時(shí)電流和電壓信號(hào)調(diào)整電壓通道和電流通道之間的延遲，以去除電壓探頭和電流探頭之間傳輸延遲的差別，這需要首先你要有這種軟件才行。國(guó)產(chǎn)...

羅氏線圈又叫電流測(cè)量線圈、微分電流傳感器、空心線圈、洛氏線圈，是一個(gè)均勻纏繞在非鐵磁性材料上的環(huán)形線圈，輸出信號(hào)是電流對(duì)時(shí)間的微分。線圈通過(guò)一個(gè)對(duì)輸出的電壓信號(hào)進(jìn)行積分的電路，就可以真實(shí)還原輸入電流，不含鐵磁性材料，無(wú)磁滯效應(yīng)，幾乎為零的相位誤差；無(wú)磁飽和象，因而測(cè)量范圍可從數(shù)安培到數(shù)百千安的電流；結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，并且和被測(cè)電流之間沒(méi)有直接的電路聯(lián)系；響應(yīng)頻帶寬0.1Hz-1MHz。與帶鐵芯的傳統(tǒng)互感器相比，羅氏線圈具有測(cè)量范圍寬，精度高，穩(wěn)定可靠，響應(yīng)頻帶寬，同時(shí)具有測(cè)量和繼電保...

高共模抑制比隔離探頭OP6030測(cè)試方案差分探頭測(cè)量半橋上管MOSFET驅(qū)動(dòng)波形失真的真實(shí)原因——高頻段CMRR不夠!在開關(guān)電源和逆變器等電力電子設(shè)備的開發(fā)中，差分探頭可以很好地用來(lái)測(cè)量MOSFET、IGBT的各種電壓波形，如VDS/VGS。但工程師在測(cè)試半橋的上管的驅(qū)動(dòng)波形時(shí)經(jīng)常遇到困惑，反映如下的問(wèn)題：1：MOSFET的驅(qū)動(dòng)波形和理想的驅(qū)動(dòng)波形差距太大2：不同廠家的差分探頭測(cè)量驅(qū)動(dòng)信號(hào)千差萬(wàn)別3：即使同樣型號(hào)的差分探頭測(cè)出的波形也會(huì)有所不同圖1是你以為的MOSFET驅(qū)動(dòng)波...

?索引：日常生活中，手機(jī)快充的電流可以達(dá)到5A，充電樁的電流瀕臨600A，逆變器的電流甚至達(dá)到上千安培。面對(duì)越來(lái)越大的待測(cè)電流，除了常規(guī)的示波器、功率計(jì)、功率分析儀、電能質(zhì)量分析儀等測(cè)試主機(jī)，還需要搭配專門的電流傳感器，才可以進(jìn)行安全、準(zhǔn)確的測(cè)試和分析。一、概述：電流分為交流電和直流電，直流電的大電流測(cè)試是比較常見的測(cè)試難題。根據(jù)大電流存在時(shí)間，電流傳感器選擇如下：1.如果是瞬間直流電流或者脈沖直流電流，用剛性羅氏線圈或者柔性羅氏線圈；2.如果是長(zhǎng)時(shí)間的直流電流，2000A以...

索引：傳統(tǒng)的差分探頭的共模抑制比在高頻段下降很快，導(dǎo)致準(zhǔn)確測(cè)量高共模干擾電壓下的小電壓信號(hào)波形（比如測(cè)量半橋電路的上管的驅(qū)動(dòng)電壓）極其困難。OP6030釆用了射頻隔離技術(shù)，從而在整個(gè)工作帶寬（50MHz）內(nèi)具有超高的共模抑制比，可以幫助我們的客戶用很低的成本完成這類挑戰(zhàn)性的測(cè)量。一、概述：在開關(guān)電源﹑電機(jī)驅(qū)動(dòng)器、新能源逆變器、變頻器﹑照明電源﹑變頻家電和其它電氣功率裝置等的研發(fā)﹑調(diào)試或檢修工作中，需要對(duì)高共模電壓情況下的差模小信號(hào)進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量，比如上橋MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)信號(hào)...

索引：如何使用和選擇測(cè)電流的羅氏線圈？羅氏線圈即柔性電流探頭，配合示波器、功率計(jì)/功率分析儀、數(shù)據(jù)采集儀、記錄儀和電能質(zhì)量分析儀進(jìn)行交流電流和脈沖直流測(cè)試！！！用于探測(cè)新能源、元器件、集成電路和電動(dòng)汽車產(chǎn)生的高頻大電流。一、概述：砷化鎵（英文名稱為Galliumarsenide，化學(xué)式為GaAs）是鎵和砷兩種元素所合成的化合物，是很重要的半導(dǎo)體材料，被用來(lái)制作像微波集成電路（例如單晶微波集成電路(MMIC)）、紅外線發(fā)光二極管、雷射二極管和太陽(yáng)電池等元件。GaAs擁有一些比S...

索引：如何使用和選擇測(cè)電流的羅氏線圈？羅氏線圈即柔性電流探頭，配合示波器、功率計(jì)/功率分析儀、數(shù)據(jù)采集儀、記錄儀和電能質(zhì)量分析儀進(jìn)行交流電流和脈沖直流測(cè)試！！！用于探測(cè)新能源、元器件、集成電路和電動(dòng)汽車產(chǎn)生的高頻大電流。一、概述：碳化硅（SiC）為由硅與碳相鍵結(jié)而成的陶瓷狀化合物，在大自然也存在罕見的礦物--莫桑石。由于天然含量甚少，碳化硅主要多為人造。較簡(jiǎn)單的方法是將氧化硅砂與碳置入艾其遜電弧爐中，以1600至2500°C高溫加熱。碳化硅至少有70種結(jié)晶型態(tài)。α-碳化硅較為...

?索引：如何使用和選擇測(cè)電流的羅氏線圈？羅氏線圈即柔性電流探頭，配合示波器、功率計(jì)/功率分析儀、數(shù)據(jù)采集儀、記錄儀和電能質(zhì)量分析儀進(jìn)行交流電流和脈沖直流測(cè)試！！！用于探測(cè)新能源、元器件、集成電路和電動(dòng)汽車產(chǎn)生的高頻大電流。一、概述：氮化鎵，化學(xué)式GaN，是氮和鎵的化合物，是一種直接能隙的半導(dǎo)體，自1990年起常用在發(fā)光二極管中。此化合物結(jié)構(gòu)類似纖鋅礦，硬度很高。氮化鎵的能隙很寬，為3.4電子伏特，可以用在高功率、高速的光電元件中，例如氮化鎵可以用在紫光的激光二極管，可以在不使...

?一、產(chǎn)品綜述：電流互感器，CT即：currenttransformer，電力系統(tǒng)中廣泛采用的是電磁式電流互感器(以下簡(jiǎn)稱電流互感器)。它是依據(jù)電磁感應(yīng)原理將一次側(cè)大電流轉(zhuǎn)換成二次側(cè)小電流來(lái)測(cè)量的儀器，由閉合的鐵心和繞組組成。柔性電流探頭，即羅氏線圈。它是一種交流電流傳感器，由一個(gè)均勻纏繞在非鐵磁性材料上的環(huán)形線圈和積分器構(gòu)成，輸出信號(hào)是電流對(duì)時(shí)間的微分，可以直接套在被測(cè)量的導(dǎo)體上來(lái)測(cè)量交流電流。二、共同點(diǎn)和區(qū)別1、共同點(diǎn)：①測(cè)量范圍廣，安全系數(shù)高，都可以測(cè)交流電流。②安裝方...

索引：如何使用和選擇EMI故障診斷的近場(chǎng)探頭？近場(chǎng)探頭也是射頻干擾探頭。配合50Ω示波器、接收機(jī)、頻譜分析儀進(jìn)行電場(chǎng)和磁場(chǎng)輻射干擾測(cè)試！！！用于探測(cè)印刷電路板、元器件、集成電路和電磁干擾源產(chǎn)生的輻射發(fā)射。一、概述：近場(chǎng)電磁干擾(EMI)測(cè)試是電磁兼容性(EMC)輻射發(fā)射預(yù)兼容測(cè)試中的一個(gè)重要組成。EMI機(jī)構(gòu)使用EMI接收機(jī)和經(jīng)過(guò)準(zhǔn)確校準(zhǔn)的天線來(lái)測(cè)試3或10米距離上的器件，這稱為遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。電磁場(chǎng)的特性主要由被測(cè)器件(DUT)以及它與接收機(jī)和天線的距離決定。遠(yuǎn)場(chǎng)輻射發(fā)射測(cè)量可以準(zhǔn)...